3D CCI von Koh Young
Beschichtungen schützen die Leiterplatte vor Umwelteinflüssen, erhöhen ihre Stabilität und verringern Ausfälle. Doch was, wenn der Auftrag zu dünn oder fehlerhaft ist? Koh Young präsentiert mit der Neptune C+ das erste Inline-fähige System, das transparente Materialien vollständig und zerstörungsfrei in 3D vermisst und löst so eine seit langem bestehende Herausforderung in der Elektronikfertigung.
NEPTUNE C+
Mit der patentierten LIFT-Technologie und der Neptune C+ setzt Koh Young neue Standards bei der Inspektion transparenter Materialien.
Neptune C+
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Vollständige Vermessung transparenter Materialien in 3D
- Erkennt Fehler wie Blasen und Risse bis zu einer Größe von 200µm
- 3D-, 2D- und Schnittbildansichten zur Analyse des Inspektionsergebnisses
- Detektion von Spritzspuren sogar außerhalb des Inspektionsfeldes
- KI-gestützte Fehlererkennung
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Zerstörungsfreie Vermessung der Dicke
Mit der patentierten LIFT-Technologie präsentiert Koh Young erstmals eine Möglichkeit, transparente und transluzente Materialien vollständig und zerstörungsfrei mit einer hohen Genauigkeit und Wiederholbarkeit in 3D zu vermessen.
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Vermessung unterschiedlicher Materialien
Neben Conformal Coating Beschichtungen vermisst die Neptune C+ zuverlässig nahezu alle transparenten, transluzenten, durchscheinenden und pigmentierten Materialien wie Epoxidharz und Verklebungen.
